真空衰减法无损检测微泄露密封性测试仪

DRK 真空衰减法无损检测微泄露密封性测试仪，符合FASTM F2338-09标准和USP40-1207法规要求，基于双传感器技术，双循环系统的真空衰减原理将微泄漏密封测试仪主机连接到一个特别设计用来容纳需要被测试包装物的测试腔内，对测试腔进行抽真空，包装物内外形成压力差，在压力的作用下包装物内气体通过漏孔扩散至测试腔内，双传感器技术检测时间和压力的变化关系，与标准值进行比较判断试样是否泄漏。

DRK 真空衰减法无损检测微泄露密封性测试仪，产品优缺点：

1.测试便捷快速

2.可溯源

3.可重复

4.无损检测

5.人为因素小

6.灵敏度高

7.定量测试

8.更易检测更小和泄露点曲折漏孔

9.仪器成本高，精度高

10.zui有效、最直观、高效的检漏法，样品经过检验后并不会受到污染，可正常使用。

DRK 真空衰减法微泄露密封性测试仪，产品参数：

项目 参数

真空度 0--100kPa

检测灵敏度 1-3um

测试时间 30s

设备操作 自带HM1

内部压力 常压

测试系统 双传感器技术

真空来源 外接真空泵

测试腔 根据样品定做

适用产品 西林瓶、安瓿瓶、预灌封(及其他合适样品)

检测原理 真空衰减法/无损检测

主机尺寸 550mmx330mm320mm(长宽高)

重量 20 Kg

环境温度 20℃-30℃

注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。